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品名：SMD4 16DUT in 1 翻盖测试座
封装尺寸：SMD4封装，间距4.6mm/2.8mm，尺寸5.9*3.9mm
测试支持：测试环境温度-45~155℃；相对湿度RH 85%，测试时长1000小时
产品特色：适用于手动快速大批量测试，单测试座同时测试16个芯片，单位DUT测试成本下降，规模效应明显
产品用途：常规SMD功率芯片的正常测试，HAST/HTOL等老化测试、可靠性测试，自动化设备匹配使用，手工测试亦可。
