一、前言
二、射频测试座的指标及作用
三、射频测试座的构成
四、RF射频测试座的工作原理
五、RF射频测试座的制作方法
六、RF射频测试座的保养
一、前言
我们都知道，射频组件和射频芯片是无线连接的核心，也是半导体行业的重要组成部分。
随着5G和WIFI6的出现，射频技术也遇到了新的挑战和机遇。
目前，射频组件和射频芯片的设计和生产能力仍然比较薄弱。
随着国家战略调整政策的实施，越来越多的资源投入到射频组件和芯片的开发和生产中。
在这个过程中，在中国，迫切需要满足RF芯片的生产测试。
测试中的困难是:
1.被测设备越来越小，测试频率越来越高。许多设备的尺寸小于1mm。
测试频率高于40GHZ。
2.受测试夹具和校准的影响，如何准确测量是制造商面临的首要问题。
二、射频测试座的指标及作用测试指标:
驻波，插入损耗;
中心频率，带宽;
带内波动，带外抑制，组延迟等。
测试座在RF芯片的测试中起什么作用:
一般来说，RF射频测试座可以在研发和小批量生产阶段进行测试工作。
手动进行测试，并根据客户的射频芯片尺寸和测试参数精确定制测试座，以确保测试结果的准确性.
三、射频测试座的构成
RF射频测试座是几个部分构成，首先是测试座外壳+测试座常规探针+RF射频同轴连接器
RF射频测试座中，大部分结构和普通的测试座类似，除了同轴连接器的部分。
现在主要说说RF连接器。RF连接器即射频同轴连接器，主要起通讯射频作用。
经过全球通讯行业的共同努力，使RF连接器形成了专业体系以及国际标准，
同时也是连接器的必不可少的组成部分。
四、RF射频测试座的工作原理
RF射频测试座的常规pin脚还是采用对应的pogo pin探针，
但是由于射频传输信号需要特别的媒介，所以相应的连接器部分也很特殊，
我们比较常见的射频同轴连接器(RF COAXIAL CONNECTOR)就是其中之一，
这个部件会被嵌入到测试座中，用于测试时候的射频导通。
对应相应测试座中射频连接器的设计选择，可以参考如下(不仅限于如下接口)，
同时在定制测试座的时候，也需要向供应商提出自己芯片的插损和回损要求(即S12/S21和S11)，同时也需要提出自己的接触阻抗要求:
BNC是卡口式，多用于低于4GHz的射频连接，广泛用于仪器仪表及计算机互联。TNC是螺纹连接，尺寸等方面类似BNC，工作频率可达11GHz，螺纹式适合振动环境。
SMA是螺纹连接，应用最广泛，阻抗有50和75欧姆两种，50欧姆时配软电缆使用频率低于12.4Ghz，配半刚性电缆最高到26.5GHz。SMB体积小于SMA，为插入自锁结构，用于快速连接，常用于数字通讯，是L9的换代品，50欧姆可到4GHz，75欧姆到2GHz。
SMC为螺纹连接，其他类似SMB，有更宽的频率范围，常用于军事或高振动环境。
N型连接器为螺纹式，以空气为绝缘材料，造价低，频率可达11GHz，常用于测试仪器上，有50和75欧姆两种。MCX和MMCX连接器体积小，用于密集型连接。
BMA用于频率达18GHz的低功率微波系统的盲插连接。
五、RF射频测试座的制作方法
当前随着5G以及WIFI6等高速通讯标准的升级，RF射频测试座的需求越来越多，也越来越高，当前主要的RF芯片会用到老化测试，功能测试，以及极端环境下的特种测试，所以也对RF射频测试座提出了更为高的测试需求。
产品设计需要依靠数据，包括芯片的尺寸(长宽厚度)，芯片间距，芯片的形状，芯片测试中芯片需要运行的频率，以及对应的插损，回损等数据。有些RF芯片功率较大，有可能需要提供过流需求，众所周知，测试座pogo pin过流能力小于1A，所以说芯片的电源引脚过流能力也需要考虑进去，要不然会影响芯片的火力全开的测试数据。
Socket+ RF同轴连接器(还需要考虑到隔离)
六、RF射频测试座的保养
射频测试座的话，需要定期保养，最好是每使用5000次用显微镜检查下接触探针或者RF射频连接器的情况，查看针顶部是否有污物以及针的磨损情况，保证测试座始终保持良好的测试状态。如果是有污物，建议使用超声波清洗设备，放入高纯度酒精进行超声波清洁，然后用气枪做最后的清洁，保证测试座在干燥的状态，保证产品的使用寿命以及测试性能。如果有轻微磨损，不影响测试。(即测试数据没有很大的误差)，可以在清洁后继续使用。如果说很严重的损伤，就需要更换探针以及RF连接器，才能继续使用了。
