深圳市凯力迪科成立于2013年，是一家专注于半导体电路接口测试和FPC连接测试产品的研究、开发、生产、及经营的技术型企业。
公司骨干来源于艾默生电源研发、测试、工程部门，拥有超过15年的工程技术能力，具备强大的电子电路开发、软件开发、机械3D设计及系统集成能力。 
公司秉承“品质，技术，创新，共赢”的服务理念，不断进行技术创新和产品升级，为客户提供更先进、更高效的测试解决方案。

主要产品与服务:
■ 芯片老化测试座
■ 芯片老化板
■ 模块电源老化柜
■ 定制电源芯片ATE测试方案
■定制芯片老化测试方案
■射频测试方案
■ FPC微针模组测试方案

广泛应用于半导体、网络数字能源、新能源汽车电子、大数据中心、航天航空、军工、大功率AI等芯片产品的性能测试、功能测试、量产老化测试等。 

发展历程 
2024年 引入射频测试方案专家
2024年 子品牌“富测精密”聚焦模块电源老化方案
2024年 模块电源量产老化筛选柜带温测模块
2023年 模块电源功能自动化测试产线
2022年 模块电源ATE测试系统
2021 研究院B 模块电源老化量产老化筛选设备
2020 研究院A 芯片级模块电源测试座
2017  iPhone X  AP+RF上下层 B2B测试夹具
2017 iPhone 6/6P LPDDR/SoC+Nand+EEPROM 套件测试夹具
2016年 LG/Samsung CPU+Nand 套件测试夹具
2015年 iPhone 5S 基带+Nand Flash+码片套件测试夹具
2015年 华为P6/P7/麦芒/荣耀/Mate手机CPU、PMU测试夹具 
2014年 SanDisk 芯片测试座及协助工程焊接
2013年 Broadcom 机顶盒、路由器、Wifi等芯片测试夹具