行业新闻-凯力迪科技|创“芯”测试方案

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03-11

冰箱彩电大沙发不香了？新能源车企竞争迈入算力、芯片、安全、智驾时代

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03-11

苏州国芯科技：坚持自主创新，RISC-V技术赋能汽车电子控制芯片和信息安全多元应用

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03-09

半导体可靠性测试与测试座

在半导体器件中，常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。在大多数情况下，加速测试不改变故障的物理特性，但会转移观察时间。加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。高加速测试是基于 JEDEC 资质认证测试的关键部分。以下测试反映了基于 JEDEC 规范 JESD47 的高加速条件。如果产品通过这些测试，则表示器件能用于大多数使用情况。

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03-09

半导体测试板（ATE）的分类及PCB加工要求

ATE，全称Automated Test Equipment，是晶圆和芯片封装之后，进行功能和性能自动化测试的设备。ATE设备可以进行芯片的参数测试、功能测试、性能测试、故障检测、可靠性测试等，在半导体的制造过程中扮演着至关重要的角色。不同类型的ATE测试机需要不同的ATE板。

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12-24

Marvell 美满电子推出 3 纳米 PAM4 光学 DSP 芯片

凯力迪定制Ai芯片老化测试座

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12-24

Marvell 美满电子推出业界首款 3nm 制程 PAM4 光学 DSP 芯片 Ara

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