芯片测试是保障芯片质量和性能的关键环节，其中涉及诸多专业名词。下面我们就来深入了解这些名词，从专业释义过渡到通俗理解。
晶圆测试 CP（Chip Probing）
专业解释
Chip Probing 的缩写，也称为中测，是在晶圆制造过程中，对晶圆级集成电路的各种性能指标（如电性能、参数指标等）和功能指标（如逻辑功能等）进行的测试。此测试在芯片尚未完成封装前进行，用于检测晶圆上每个芯片的初步质量情况。
通俗理解
想象一下，芯片还在晶圆这个 “大集体” 里没 “单飞”（封装）的时候，就像一群学生还在教室里没毕业。这时候来一场 “模拟考试”，检查每个 “学生”（芯片）的知识掌握情况（性能和功能指标），看看哪些 “学生” 学得好，哪些可能有问题，这就是晶圆测试 CP 啦。
芯片成品测试、FT（Final Test）
专业解释
Final Test 的缩写，也称为终测。是在芯片完成封装后，对其进行全面的性能指标（包括电气性能、可靠性等）和功能指标（如特定应用功能实现情况）测试，以确保芯片符合设计要求和质量标准，能够在实际应用中正常工作。
通俗理解
芯片封装好比学生穿上了毕业礼服，准备正式踏入社会。芯片成品测试 FT 就像是毕业前的最后大考，全方位检查芯片是不是真的具备了所有该有的能力，能不能顺利 “上岗”（应用到电子产品中），只有通过这个大考，芯片才能算是合格的 “毕业生”。
良率
专业解释
被测试电路经过全部测试流程后，测试结果为良品的电路数量占据全部被测试电路数量的比例。对于芯片制造而言，是完成所有工艺步骤后，测试合格的芯片数量与整晶圆上有效芯片（可用于后续封装等工序的芯片）的比值。晶圆良率越高，意味着同一片晶圆上产出的合格芯片数量越多。
通俗理解
就像工厂生产一批玩具，生产完后要检查。良率就是检查合格的玩具数量在这批生产的所有玩具数量里占的比例。在芯片制造里，如果把晶圆比作玩具生产的原料，那良率就是从这块晶圆里能产出多少合格的芯片，比例越高，说明生产出来的好芯片越多，越 “划算”。
Mapping
专业解释
晶圆结果映射图，是将晶圆上每个晶片（Die）的测试结果，以图形化的方式呈现出来，每一个方块对应一个晶片的测试结果。通过 Mapping 图，可以直观地了解晶圆上不同位置晶片的质量分布情况，便于分析生产过程中可能存在的问题。
通俗理解
把晶圆想象成一张大地图，上面的每个晶片就是地图上的一个个小地点。Mapping 就是一张特殊的 “地图标记”，每个小方块代表一个地点（晶片），方块的颜色或者状态就表示这个晶片的测试结果，是好是坏一目了然。就像旅游地图上标记出哪些景点值得去，哪些可能在维修不能去一样。
Site
专业解释
子指测试工位，在芯片测试过程中，每个工位每次负责测试一颗芯片。它是芯片测试操作的基本单元，不同的测试设备可能包含多个 Site，以提高测试效率。
通俗理解
Site 就像考试时候的一个个考位。每个考位（Site）每次只允许一个学生（芯片）进去考试（测试） 。要是有很多个考位（多个 Site ），就能同时让多个学生考试，这样就能更快地把所有学生都考一遍，提高考试（测试）的速度。
测试机、ATE（Automatic Test Equipment）
专业解释
即自动测试设备（Automatic Test Equipment）的缩写，是一种专门用于对芯片进行各种性能和功能测试的设备。它能够按照预设的测试程序，向芯片输入各种激励信号，并采集芯片的响应信号，通过分析这些信号来判断芯片是否符合设计要求。
通俗理解
测试机 ATE 就像是一个超级厉害的 “体检医生”。芯片就像来体检的病人，测试机给芯片做各种检查，比如量量 “血压”（电性能测试） 、测测 “反应能力”（功能测试） 。它会按照一套既定的体检流程，给芯片输入各种信号，然后看看芯片的 “身体反应”，判断芯片是不是健康，能不能正常工作。
探针台、Prober
专业解释
指将晶圆逐片自动传送到测试位置，使芯片的管脚通过探针、专用连接线与测试机的功能模块进行连接的测试设备。其作用是精准定位晶圆并建立芯片与测试机之间的电气连接，以便进行测试。
通俗理解
探针台就像是一个智能的 “快递员兼接线员”。它先把晶圆（一大盘芯片）一片一片准确地送到测试的地方，然后像接电线一样，用探针和连接线把芯片的管脚和测试机连接起来，让测试机能顺利给芯片 “检查身体”，传递测试信号。
测试板、Load Board
专业解释
负载板或承载板，是一种用于封装后成品芯片进行测试的治具。它为芯片提供了一个电气连接的接口，能够将芯片与测试机连接起来，同时为芯片提供稳定的机械支撑和电气环境，以确保测试的准确性。
通俗理解
测试板就像芯片测试时的 “专属小床”。封装好的芯片躺到这张 “床”（测试板）上，通过这张 “床” 上的各种接口和线路，能和测试机 “手拉手”（连接起来） 。这张 “床” 不仅能稳稳地托住芯片，还能给芯片提供合适的 “环境”，让测试机能准确地给芯片做测试。
分选机、Handler
专业解释
根据集成电路芯片不同的性质（如性能参数、功能特性等），对其进行分级筛选的设备，同时能够将芯片逐片自动传送到测试位置的自动化设备。它可以提高芯片测试和筛选的效率，将不同质量等级的芯片进行分类。
通俗理解
分选机就像一个聪明的 “分类小能手”。芯片就像一堆待分类的物品，分选机根据芯片的各种 “本事”（性能、功能等），把芯片分成不同的等级。它还能像个小搬运工一样，把芯片一个一个送到测试的地方，最后把分好类的芯片整理好，方便后续的使用。
探针卡、Prober
专业解释
一种应用于集成电路晶圆测试中的电路板，其功能是实现与晶圆级芯片的连接。探针卡上分布着许多探针，这些探针能够与晶圆上芯片的管脚（Pad）精确对接，从而建立起芯片与测试机之间的电气连接，传输测试信号。
通俗理解
探针卡可以看作是一座 “信号桥梁”。在晶圆测试的时候，芯片的管脚（Pad）就像桥的一端，测试机像桥的另一端，探针卡就是中间的桥身，上面的探针就是桥上的 “通道”，能让测试信号从测试机顺利地传输到芯片上，再把芯片的响应信号传回去。
治具、ConversionKit
专业解释
一种用于集成电路测试的配件，通常是为了满足特定的测试需求而设计制造的。治具可以辅助芯片在测试过程中的定位、连接等操作，确保测试的准确性和稳定性，不同的测试场景可能需要不同类型的治具。
通俗理解
治具就像是芯片测试时的 “小帮手”。在测试的时候，有时候光靠大设备还不够，需要一些小工具来帮忙把芯片固定好、连接好。就像我们修理东西的时候，除了大扳手，还需要小螺丝刀、镊子这些小工具来辅助操作，治具在芯片测试里就起这个辅助作用。
引脚
专业解释
又称管脚，是从集成电路内部电路引出与外围电路进行连接的接线。引脚是芯片与外部电路实现电气连接的关键部分，通过引脚，芯片能够接收外部输入信号、输出内部处理信号，实现与其他电子元件的交互。
通俗理解
引脚就像芯片的 “小触手”。芯片要和外面的电路 “交流”，就得靠这些 “小触手”。比如芯片要接收电源供电，或者把自己处理好的信号传给其他元件，都得通过这些 “小触手” 来传递，就像我们用手来传递东西一样。
Pin
专业解释
指探针，是连接晶圆管脚和探针卡的金属针。在晶圆测试过程中，Pin 能够与晶圆上芯片的管脚精确接触，从而建立起电气连接，使测试信号能够在探针卡和芯片之间传输。
通俗理解
Pin 就像小小的 “导电针”。在测试的时候，它一头连接着探针卡，一头连接着晶圆上芯片的管脚，就像电线的两头接口一样。通过它，测试信号就能像电流一样在探针卡和芯片之间跑来跑去，让测试机能顺利检测芯片。
Pad
专业解释
指晶圆管脚，IC 引脚在晶圆上以铝垫形式引出。Pad 是芯片内部电路与外部引脚连接的过渡区域，通常由铝等导电材料制成，其作用是为芯片引脚提供一个便于连接和测试的物理接口。
通俗理解
Pad 可以想象成芯片内部和外部连接的 “中转站”。芯片内部的电路信号要传到引脚上去，得先经过这个 “中转站”。它就像一个小平台，引脚可以很方便地和它连接，这样信号就能顺利地从芯片内部传到外部电路啦。
Soc（System - on - Chip）
专业解释
System - on - Chip 的缩写，即逻辑与混合信号芯片，也称系统级芯片。它是在单个芯片上集成多个具有特定功能的集成电路（如处理器、存储器、接口电路等）所形成的电子系统。Soc 能够在一个芯片内实现复杂的系统功能，大大提高了芯片的集成度和功能密度。
通俗理解
Soc 就像一个 “超级迷你小电脑”。把原来电脑里的 CPU、内存、各种接口电路等好多重要的东西，都浓缩到一个小小的芯片里。一个 Soc 芯片就能完成很多复杂的任务，就像一个小小的盒子里装了一个完整的电脑系统，功能强大还不占地方。
关于凯力迪
深圳市凯力迪科技有限公司成立于2013年，是一家专注于半导体测试解决方案的高科技企业。我们致力于为客户提供从芯片设计验证、第三方可靠性测试到ATE量产测试的全流程测试解决方案，助力客户加速产品上市，提升市场竞争力。
核心优势
经验丰富的技术团队： 我们拥有一支超过15年经验的工程技术团队，具备专业的电子电路开发、软件开发、机械3D设计及系统集成能力，可为客户提供专业的技术支持和定制化服务。
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高品质的产品和服务： 我们坚持严格的质量控制体系，确保产品的高可靠性和稳定性，为客户提供专业、高效的芯片测试解决方案。
主要产品与服务：
1)CPU/GPU/FPGA大芯片/车规芯片老化测试座： 针对不同封装类型和测试需求，提供高性能、高可靠性的老化测试座，满足HTOL老化测试和ATE量产测试的严苛要求。
2)RF 射频测试方案： 提供全面的射频测试解决方案，涵盖从研发到量产的各个环节，助力客户提升射频芯片的性能和可靠性。
3) 定制ATE测试座/测试治具： 根据客户具体需求提供定制化测试座和测试治具设计服务，满足客户个性化测试需求。
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