新闻中心-凯力迪科技|创“芯”测试方案

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05-28

凯力迪定制 QFN32 0.4mm ATE测试座适用于各类测试机台

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05-28

凯力迪推出 QFN68 0.4mm 老化测试座

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05-28

凯力迪发布 DFN8 0.8mm 烧录测试座

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05-28

凯力迪发布 WLCSP16 0.5mm NOR Flash 测试座烧录座助力客户测试芯方案

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05-26

芯片领域名词大揭秘：从专业到通俗的深度解读(三)

芯片技术日新月异，众多专业名词让人应接不暇。下面为你详细介绍芯片领域常见专业名词，助你轻松理解其中奥秘。

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05-22

芯片领域名词大揭秘：从专业到通俗的深度解读（二）

#QFN #QFP #BGA #LGA #PGA #DFN #Chiplet #2.5D #3D #CoWos #FC #FCBGA #FCCSP #SiP #WLCSP #通富 #长电 #华天 #甬矽 #晶方科技 #颀中科技 #伟测 #利扬芯片 #爱德万 #IC #TestSocket #泰瑞达 #ATE

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05-21

芯片领域名词大揭秘：从专业到通俗的深度解读(一)

在芯片科技浪潮席卷而来的当下，各种专业名词令人眼花缭乱。今天，就让我们深入剖析芯片领域的关键名词，从专业释义到通俗理解，带你全方位认识这个精密复杂的世界。#QFN #QFP #BGA #LGA #PGA

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03-13

凯力迪定制CPU测试架/CPU测试治具/CPU测试夹具

凯力迪定制型CPU测试架/CPU测试治具/CPU测试夹具，专为满足客户对高性能、高精度测试的需求而设计。

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03-11

冰箱彩电大沙发不香了？新能源车企竞争迈入算力、芯片、安全、智驾时代

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03-11

苏州国芯科技：坚持自主创新，RISC-V技术赋能汽车电子控制芯片和信息安全多元应用

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03-09

半导体可靠性测试与测试座

在半导体器件中，常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。在大多数情况下，加速测试不改变故障的物理特性，但会转移观察时间。加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。高加速测试是基于 JEDEC 资质认证测试的关键部分。以下测试反映了基于 JEDEC 规范 JESD47 的高加速条件。如果产品通过这些测试，则表示器件能用于大多数使用情况。

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03-09

半导体测试板（ATE）的分类及PCB加工要求

ATE，全称Automated Test Equipment，是晶圆和芯片封装之后，进行功能和性能自动化测试的设备。ATE设备可以进行芯片的参数测试、功能测试、性能测试、故障检测、可靠性测试等，在半导体的制造过程中扮演着至关重要的角色。不同类型的ATE测试机需要不同的ATE板。