深圳市凯力迪科技有限公司成立于2013年，是一家专注于半导体测试解决方案的高科技企业。我们致力于为客户提供从芯片设计验证、第三方可靠性测试到ATE量产测试的全流程测试解决方案，助力客户加速产品上市，提升市场竞争力。

老化座 产品数据： 1.材料应用: PES/LCP/PEEK 2.间距： ≥ 0.35mm 3.结构: 下压/翻盖 可选 4.接触方式：探针/弹片 可选 5.工作温度：-55°C～+175°C

领域广 航天级芯片、车规级芯片、工业级芯片、消费电子芯片 封装形式全：QFN/DFN/QFP/CSP/BGA/PGA/LGA/SiP/MCP/MCM/SOP...... 芯片尺寸 0.5X0.6mm/1X1mm/4X4mm/5X5mm/6X6mm/20X20mm...... 间距Pitch: Min 0.3mm/0.35mm/0.4mm/0.5mm.....

老化座 产品数据： 1.材料应用: PES/LCP/PEEK 2.间距： ≥ 0.35mm 3.结构: 下压/翻盖 可选 4.接触方式：探针/弹片 可选 5.工作温度：-55°C～+175°C 应用广 图标 - 实验室老化验证 图标 - 第三方可靠性HTOL/HAST 图标 - 量产老化筛选

凯力迪定制Ai芯片老化测试座

Marvell 美满电子推出业界首款 3nm 制程 PAM4 光学 DSP 芯片 Ara

身处AI超级周期中，Marvell已经迅速转型为一个AI优先的数据中心半导体公司。Marvell正在进入其历史性发展的新纪元。

凯力迪发布高阶AI芯片老化测试座 KLD-BGA5602-AI、 KLD-BGA4755-AI 等 作为行业领先的半导体测试插座制造商，凯力迪专注于高阶测试应用市场 ， 如高效能运算芯片、AI 芯片、GPU、XPU、FPGA、ASIC、Arm服务器芯片、光电互联芯片、交换芯片、网络芯片、数据基础设施芯片等， 广泛应用于以太网交换机、网络接口卡 (NIC)、光学DSP、主动电缆DSP、PCIe重定时器、数据中心互联光模块和以太网交换硅定制芯片方案老化测试方案。

使用 HALT 和 HASS 测试节省产品开发的时间和金钱。

凯力迪定制开发Nand 测试座

CPU/GPU内存芯片，其实就是将很多个DDR芯片堆叠在一起后和GPU封装在一起，实现大容量，高位宽的DDR组合阵列

定制各种手机芯片测试座