高加速寿命试验 (HALT) 和高加速应力筛选 (HASS) 通常结合使用。 在 HALT 过程中，产品会承受不断增加的温度和振动应力水平（单独或组合）、快速热转变以及与产品操作特别相关的其他应力。
HALT 的信息目标是：
确定多种故障模式和根本原因
确定功能操作限制
确定功能破坏限制
关注热应力和振动应力（首先单独，然后组合）
HALT 是专门为固态电子产品开发的，但可以通过正确的设备应用于任何产品。 一般来说，通过在尽可能少的子组件上进行测试可以最有效地满足 HALT 的信息目标：
考虑“功能组装”和确定产品功能的技术限制之间的平衡
考虑拆除抑制振动或阻碍气流的结构； 减少施加在子组件上的应力
考虑到关键电路或连接的丢失可能会影响测试的子组件
高加速应力筛选 - HASS
一旦 HALT 流程完成并且产品经过加固，我们就可以开发定制生产屏幕来识别流程缺陷。 运行 HASS：
同时施加所有压力。 在振动过程中，温度在极端值的短暂停留之间不断升高。
HASS 压力水平基于 HALT 限制。
包括任何“关键”附加产品应力（根据 HALT 确定，例如产品功率）。
进行沉淀筛选并评估超出操作限制、接近破坏限制的产品。
由于“潜在”缺陷而导致产品失效。
进行检测筛选并评估接近操作极限的产品。 确认并探讨沉淀筛故障以及其他硬、软故障。
使用加速压力测试来管理颠覆性的市场变化
