G3VM系列固态光耦继电器测试座SOP4-2.54老化测试

 G3VM系列固态光耦继电器测试座SOP4-2.54老化测试
二、实际要求：

1.封装：SOP封装

2.Pin数:4

3.接地数量：0pin

4.芯片类型：固态光电耦合继电器

5.测试要求：老化测试支持HTOL、HAST

三、需求分析：芯片为光耦继电器，主要是用于HTOL的测试为155℃*1000小时，尺寸以及引脚的配合ok即可；

四、制作生产：产品根据批量测试要求定制了这个产品，用于配合芯片的HTOL老化测试，军工，高规格测试要求能很好的匹配测试。

五、生产完成，对测试座所有尺寸的进行质检。