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SSD固态硬盘(eSSD)芯片BGA291-0.8功能老化测试座

  • SSD固态硬盘(eSSD)芯片BGA291-0.8功能老化测试座

SSD固态硬盘(eSSD)芯片BGA291-0.8功能老化测试座

SSD固态硬盘(eSSD)芯片BGA291-0.8功能老化测试座

BG3系列 BGA SSD固态硬盘(eSSD)芯片BGA291-0.8功能老化测试座
1.  品名:BGA291-0.8功能老化测试座

2.  什么是BGA291-0.8  eSSD芯片:BGA291-0.8是一款专门用于eSSD的BGA  SSD芯片,具有高性能和稳定性。

3.  产品适用芯片的封装形式:BGA291-0.8功能老化测试座适用于M.2接口的2280固态硬盘主板上,可以直接进行功能测试以及工业级老化测试。

4.  产品应用场景:BGA291-0.8功能老化测试座广泛应用于电子产品的测试以及生产过程中的老化测试,如固态硬盘、工控机、机顶盒等。

5.  测试要求:该产品需要支持8对差分信号,可以过3.5G/s高速率信号。电源部分最高为3.3V,单pin电流小于1A,支持长时间稳定工作。

6.  产品亮点:BGA291-0.8功能老化测试座是一款高性能、高稳定性的测试座。它可以有效提高测试效率和产品质量,同时还具备简单易用、操作便捷等特点,是电子工厂生产过程中的得力助手。

 

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