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 P1022 QorIQ集成处理器BGA689-1.0-31*31功能测试座

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P1022 QorIQ集成处理器BGA689-1.0-31*31功能测试座

P1022 QorIQ集成处理器BGA689-1.0-31*31功能测试座

 P1022 QorIQ集成处理器BGA689-1.0-31*31功能测试座
一、实际要求:

1.封装:BGA封装 WB-TePBGA II-689

2.Pin数:689

3.接地数量:0pin

4.芯片类型:FPGA

5.测试要求:芯片功能测试

二、需求分析:BGA689-1.0-31*31封装芯片,是一款集成双核处理器,其时钟频率最高为1067Mhz,L2缓存带ECC,同时配置有SRAM内存功能,DDR部分的速率支持800MT/s,最高32G内存,其他的接口没有特别高速要求,USB功能只有USB2.0的性能,所以最高需要1067Mhz,单独探针需要满足这点的要求,另外该双核芯片的功耗较高,需要配置对应的散热片来辅助工作中的散热;

三、制作生产:BGA689-1.0-31*31是标准的塑封球阵列芯片,简称为WB-TePBGA,其尺寸公差需要参考ASME Y14.5M-1994,需要注意的是由于该封装有塑封凸起的部分,所以散热部分需要对应做好避空,从而利于芯片与散热结构贴合减少热阻,利于测试中的散热性能。另外就是探针的匹配以及低阻抗的问题,这点做好,芯片的发热会更少,从而性能测试的结果会更优

四、生产过程中对各个部件进行严格的检测,保证组件在大阵列芯片测试座的配合ok,探针性能在确认了其性能参数数据以后方能装配。测试座完成生产,发给用户做最后的实测验证即可。

 

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