54Pin 0.85间距 CMOS图像传感芯片测试座 Mass test

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54Pin 0.85间距 CMOS图像传感芯片测试座 Mass test

54Pin 0.85间距 CMOS图像传感芯片测试座 Mass test

 54Pin 0.85间距 CMOS图像传感芯片测试座 Mass test

一、实际要求:

1.封装:LGA54 封装

2.Pin数:54

3.接地数量:0pin

4.芯片类型:CMOS图像传感芯片测试座

5.测试要求:芯片尺寸设计需要按照其尺寸精密控制,因为其外形是PCB的设计,其公差比较大,需要多次调试之后确定其DUT的size;由于测试是批量测试,需要做1VS9的架构,这样能方便快速测试;因为芯片其设计是CMOS图像传感,所以需要开窗来做成像测试;芯片的结构比较负责,需要对应做避空等测试。

二、需求分析:按照以上的要求来说,这个芯片的设计较为难度的地方在于外形的设计,设计ok,匹配调整等;电性等方面,没有什么特殊的要求,只需要正常的引脚做对应的匹配即可;

三、制作生产:多次测试外形尺寸等功能,匹配和公差调整之后,确认ok即可批量生产;

四、出货要求:以上测试座确认ok之后,即可出货

 

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