QFN100-0.4 低功耗32bit-MCU测试座
一、实际要求：
1.封装：QFN封装
2.Pin数:100
3.接地数量：6pin
4.芯片类型：MCU
5.测试要求：MCU基础功能检测
二、需求分析：
QFN100封装的测试座，主要用于性能测试，即需要满足物理方面的匹配以及实际的电性测试要求的匹配，首先我们来看看其物理测试，尺寸方面是0.4mm的间距，12x12x0.85mm；其次是电性方面，电性方面，这个芯片是小于3.3V的低功耗供电需求，低于50Mhz的频率需求，外围拓展电路设计要求不高，100pin的封装设计，使之能有更多I/O拓展口；内涵1个USB2.0的拓展口，方便其与设备更好的交互通讯，其QFN100测试座只需满足50Mhz的频率需求以及USB2.0的速率标准即可。
三、制作生产：采用正常的QFN类封装芯片的测试座的制作工序，根据芯片的尺寸，保证其基础测试要求接口，另外，芯片的测试座还需要满足芯片的正常测试电性要求即可，目前常规探针的属性即可达成需求；
四、生产完成，对测试座所有尺寸的进行质检，确认ok即可发出。
