DFN/LGA73 0.5mm间距测试座

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DFN/LGA73 0.5mm间距测试座

DFN/LGA73 0.5mm间距测试座

DFN/LGA73 0.5mm间距测试座
一、实际要求:

1.封装:DFN/LGA

2.Pin数:73pin

3.间距:0.5mm

4.芯片类型:73pin快速测试模块

5.测试要求:芯片功能性调试,烧录以及测试芯片好坏

二、需求分析:该芯片测试要求不高,不要是用于快速测试好坏,芯片的调试,保证芯片的功能正常运行;芯片内部程序的编译写入以及调试,快速测试芯片是否ok,再应用在产品设备上。

三、制作生产:芯片无大电流,无高频,对探针要求不高,需要快速测试的速测配合;芯片间距略小,加工难度略大;

四、出货检测:各个零件加工环节,做好检测确认;各个环节确认ok,即可安装,安装ok,使用芯片确认测试座的相关尺寸;确认ok即可出货。

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