DDR4 78 球测试治具
一、实际要求：
1.封装：DDR 78ball 通用芯片
2.Pin数:78
3.芯片间距：0.8mm
4.芯片类型：DDR4芯片
5.测试要求：功能性测试以及内存颗粒功能性老化测试
二、需求分析：治具主要面向手动快速测试DDR内存颗粒，主要是基于目前商用级别的测试方式，需要配合专用测试设备来使用，例如欧洋软件及其对应搭载的测试设备等，又比如低端的单片机PCIE卡的方式，都是需要测试治具满足适配原内存条的性能以及对应的结构，同时予以手动或者自动化配合结构。
三、制作生产：1.制作配合手动测试的机构，例如翻盖与下压的结构方式，选择适用于快速测试的翻盖结构更优；2.更加芯片的尺寸以及可能的支持选择可更换的限位框结构，磁吸方便更换；3.内存主板和内存颗粒的接触，有探针和导电胶的选择，经过多种功能性测试之后，选择性能更优的导电胶，导电胶的轻薄，conductive部分的内阻很低，适用于多种频率和大电流的要求；4.外部结构采用扎实耐用的厚合金结构对整个长条形的内存条结构起到一个很好的作用。
四、生产完成之后，采用原来的芯片测试即可，使用专门的设备以及服务器来做相应的测试，使用好坏芯片循环测试之后，确认其测试情况ok即可。78ball的内存颗粒一般为8bit,在测试和软件辅助下，能同时测试8颗IC的好坏，能够很好的提升测试效率。
