一、型号
QFN28-0.5-AS01PGL老化座
二、实际要求：
1.封装QFN
2.Pin数:28
3.接地数量：3pin
4.芯片size:6*3*0.75mm
5.测试要求：HAST测试 150℃*72小时 in 85%相对湿度；
三、需求分析：主要做老化测试，对电性要求不高，主要是接触阻抗需要控制ok即可；测试座结构以及所有的材料，需要满足在85%相对湿度下测试150℃*72小时的要求。
四、制作生产：由于产品的结构无法使用目前已开模具的弹片及其对应的测试座结构，只能采用成本更贵一些的合金探针结构，即pogo pin结构；
五、生产完成，对老化座所有尺寸的进行质检，针对图纸上的各个标注尺寸进行严格检测，确认无误即可组装；组装的同时，需要将老化座加工材料放置与老化炉中做采样检测；同时组装完之后也需要同样做检测，待所有检测Pass即可入库出货
