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封装尺寸：TO247封装/TO-3P封装，间距5.44mm，尺寸41.1*15.6mm
测试支持：测试环境温度-45~155℃；相对湿度RH 85%，测试时长1000小时
产品特色：适用于自动化上下料，批量老化板快速取放芯片，自动化老化测试车间，批量推进至老化炉老化舱内，进行智能老化测试。
产品用途：HAST/HTOL等老化测试、可靠性测试，自动化设备匹配使用，手工测试亦可。
品名：TO247-3L下压老化座
