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品名：SOT23-3翻盖老化测试座 Small Signal Transistor老化座
封装尺寸：SOT23封装，间距0.95mm，本体尺寸1.3~1.4mm，尺寸：2.8*3mm，外观标准：SC-59
老化测试支持：测试环境温度-45~155℃；相对湿度RH 85%，测试时长1000小时，单Pin过流：1A
产品特色：适用于手动快速大批量测试，开模产品，成本优势大，交期也更快
产品用途：AST/HTOL等老化测试、可靠性测试
