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品名：SO8翻盖功能测试座 Power MOSFET function test socket
封装尺寸：SO8封装，间距1.27mm，本体尺寸3.9mm，尺寸：4.9*6mm
老化测试支持：测试环境温度-55~155℃；相对湿度RH 85%，测试时长1000小时，单Pin过流：1A
产品特色：适用于功能性测试，S极 3pin/ D极 4pin/ G极 1pin，按照芯片的实际测试要求定制，符合整体测试环境以及测试要求；
产品用途：IC功能性测试
