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TSOP-6翻盖烧录座 SOT23-6 小信号晶体管烧录座

  • TSOP-6翻盖烧录座 SOT23-6 小信号晶体管烧录座

TSOP-6翻盖烧录座 SOT23-6 小信号晶体管烧录座

TSOP-6翻盖烧录座 SOT23-6 小信号晶体管烧录座

品名:TSOP-6翻盖烧录座 SOT23-6 小信号晶体管烧录座

封装尺寸:TSOP6封装,间距0.95mm,本体尺寸1.6mm,尺寸:2.9*2.5mm

老化测试支持:测试环境温度-55~155℃;相对湿度RH 85%,测试时长1000小时,单Pin过流:1A

产品特色:适用烧录,适用于芯片基础性能调试

产品用途:IC烧录,programming

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