LTM4644 BGA77测试座

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LTM4644 BGA77测试座

品名: LTM4644 BGA77测试座

封装尺寸:1.27mm间距,15.10*9.1*4.41mm

老化测试支持:测试环境温度125℃,测试时长1000小时,单Pin过流:2A,电压最高到20V;

产品特色:适用于芯片基础性能调试

产品用途:直流开关稳压芯片测试

产品亮点:耐大电流,1个芯片多个通道,分别出对应电流,4通道,各个通道过8A电流。所以需要探针过流能力强,阻抗低;

LTM4644 BGA77测试座

 

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