TOLL封装 9Pin 1.2mm间距老化测试座

封装尺寸：TOLL封装，采用MO-299 JEDEC标准封装

老化测试支持：测试环境温度-45~155℃，测试时长1000小时，过流一进一出3A的老化测试负载。

产品特色：适用于芯片基础性能调试与HAST老化测试

产品用途：芯片主要用于开关电源、绿色照明、电机驱动、汽车电子、新能源充电桩、太阳能设备、数码家电、安防工程等行业

产品亮点：耐大电流，芯片单通道3A以上，100V高压的持续输出测试，需要配合开尔文类的刀型探针来匹配过流要求，探针过流内阻低；在功能老化测试的同时保证发热不会很大，同时测试座外壳铝合金结构，阳极氧化绝缘，兼顾了绝缘与散热。