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DFN8-1.27-6×8老化测试座

  • DFN8-1.27-6×8老化测试座

DFN8-1.27-6×8老化测试座

DFN8-1.27-6×8老化测试座

品名：DFN8-1.27-6×8老化测试座

封装尺寸：DFN8封装，间距1.27mm，尺寸6*8mm

测试支持：-45~125℃，消费级SD NAND IC以及 Nor flash芯片的老化、老炼测试；

产品特色：采用pogo pin镀金探针结构，适应极端环境的老化测试，在高低温高湿的环境下表现优秀；

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