TO247-3L下压老化座

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TO247-3L下压老化座

品名:TO247-3L下压老化座

封装尺寸:TO247封装/TO-3P封装,间距5.44mm,尺寸41.1*15.6mm

测试支持:测试环境温度-45~155℃;相对湿度RH 85%,测试时长1000小时

产品特色:适用于自动化上下料,批量老化板快速取放芯片,自动化老化测试车间,批量推进至老化炉老化舱内,进行智能老化测试。

产品用途:HAST/HTOL等老化测试、可靠性测试,自动化设备匹配使用,手工测试亦可。

TO247-3L下压老化座

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