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QFN32 0.5 5*5 老化座

  • QFN32 0.5 5*5 老化座

QFN32 0.5 5*5 老化座

QFN32 0.5 5*5 老化座

品名：QFN32 0.5 5*5 老化座

封装尺寸：QFN封装，0.5mm间距，5*5mm尺寸

测试支持：MCU以及EEPROM封装，射频芯片老化测试用途

产品特色：耐高低温-45~155℃，弹片耐温能力强，接触阻抗低，接触稳定；

产品用途：老化测试以及HAST、HTOL、PCT等以及同样封装的烧录用途

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