行业热门
微针模组
定制类
存储芯片
逻辑芯片
模拟芯片
传感器
光电子器件
分立器件
芯片返修服务
品名:7050-8pin晶振老化座
封装尺寸:针对7050封装尺寸的晶振而生产,8pin间距2.54mm
测试支持:主要用于晶振的带电老化,可编程晶振烧录
产品特色:开模件产品,焊接至测试PCB,接触稳定以及支持高速取放等测试;
产品用途:-55~155℃宽幅动态老化测试要求,老化时长高达1000小时的循环测试;