7050-8pin晶振老化座

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7050-8pin晶振老化座

7050-8pin晶振老化座

品名:7050-8pin晶振老化座

品名:7050-8pin晶振老化座

封装尺寸:针对7050封装尺寸的晶振而生产,8pin间距2.54mm

测试支持:主要用于晶振的带电老化,可编程晶振烧录

产品特色:开模件产品,焊接至测试PCB,接触稳定以及支持高速取放等测试;

产品用途:-55~155℃宽幅动态老化测试要求,老化时长高达1000小时的循环测试;

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