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车规芯片DFN老化座

  • 车规芯片DFN老化座

车规芯片DFN老化座


该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于PDFN、DFN、TO等封装大电流大功率芯片、MOS管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试
使用环境温度最高可达到200℃≤85HR@3000小时
 
车规芯片DFN老化座
　　新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管 测试座_PDFN芯片老化座
 
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