近年来，随着智能穿戴设备的广泛应用，大大方便了人们的出行。这种设备具有丰富的功能，可不依赖智能手机实现全部或部分的功能，如运动智能手表，可打电话，发短信，可即时查看心率、步数、公里数等。而智能穿戴设备如手表、手环等，很大一部分需要LCD屏或OLED屏幕才能得以实现完整的功能。因此其屏幕测试则显得非常重要，而针对智能穿戴产品的显示测试，凯力迪公司自主研发了一款优质测试模组：BTB/FPC弹片微针模组blade pin。
与传统pogo pin探针相比，这款新模组有着不可比拟的优势。
第一， pogo pin采用探针式结构，测试不稳定，易出现断针、卡pin的现象。而鸿怡电子的弹片微针模组采用弹片式结构，测试较为稳定，最大通过额定电流高达30A，包容1-30A之间的电流，而传统pogo pin过流能力差，仅为1A。
第二， pogo pin可承受的pitch值范围窄，仅为0.3mm-0.4mm，无法应对多样化的测试要求。而弹片微针模组最小间距可达0.1mm，pitch值范围在0.1mm-0.4mm！
第三， pogo pin的平均使用寿命仅为5W次，无法应对高频率的测试要求，而blade pin的平均使用寿命高达20W次，是pogo pin的整整四倍！
择弹片微针模组，就是选择了安全、高效、低成本的测试方式。在应对智能穿戴设备显示屏的测试中，BTB/FPC弹片微针模组提供了一个优秀的解决方案。
